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NY-406DR低對比度細節檢測模體

  • 產品型號：
  • 廠商性質：生產廠家
  • 更新時間：2025-02-18
  • 訪  問  量：723

簡要描述：用于拍片、數字X射線成像系統和透視系統檢測。可以檢測光野/射野一致性、空間分辨力、低對比度分辨力、動態范圍和圖像一致性等項目。

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產品詳情

NY-406DR低對比度細節檢測模體

 

產品簡介

 用于拍片、數字X射線成像系統和透視系統檢測。可以檢測光野/射野一致性、空間分辨力、低對比度分辨力、動態范圍和圖像一致性等項目。

 

主要技術參數：

1、模體功能外形尺寸300x300x18.5mm

2、基板厚度1.5mm，300x300mm

3、空間分辨力0.6-5.0Lp/mm，0.1mmPb

4、低對比度分辨力12個內徑10mm圓孔，范圍0.5-7.6%，精度0.01mm動態范圍17個銅階，范圍1/16-16精度0.01mm影像均勻性15x15mm正方形采樣區13個，精度0.005mm

5、確定輻射野大小和位置的標記

 

 




















產品簡介

 用于拍片、數字X射線成像系統和透視系統檢測。可以檢測光野/射野一致性、空間分辨力、低對比度分辨力、動態范圍和圖像一致性等項目。

 

主要技術參數：

1、模體功能外形尺寸300x300x18.5mm

2、基板厚度1.5mm，300x300mm

3、空間分辨力0.6-5.0Lp/mm，0.1mmPb

4、低對比度分辨力12個內徑10mm圓孔，范圍0.5-7.6%，精度0.01mm動態范圍17個銅階，范圍1/16-16精度0.01mm影像均勻性15x15mm正方形采樣區13個，精度0.005mm

5、確定輻射野大小和位置的標記



 

 


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